測(cè)試治具和測(cè)試探頭有些是2端子結(jié)構(gòu)的。2端子結(jié)構(gòu)的會(huì)受到接觸電阻的影響，測(cè)量低阻抗的測(cè)試物時(shí)，有可能發(fā)生測(cè)量值不穩(wěn)定的現(xiàn)象。因?yàn)榻佑|電阻不穩(wěn)定，根據(jù)接觸壓力等會(huì)發(fā)生變化。