請(qǐng)注意以下內(nèi)容。

＜＜　導(dǎo)線電阻·接觸電阻?。荆?/p>

特別是測(cè)量低電阻時(shí)，一般來(lái)說(shuō)電阻測(cè)量中用的導(dǎo)線（測(cè)試線）和導(dǎo)線自身的電阻和接觸電阻會(huì)成為測(cè)量誤差。為了排除導(dǎo)線電阻、接觸電阻的影響準(zhǔn)確測(cè)量，需要用4端子測(cè)量。

※接觸電阻

接觸面的粗糙度和氧化膜、油、銹跡、灰塵等垃圾的附著造成接觸面產(chǎn)生電阻。

接觸電阻根據(jù)環(huán)境條件可達(dá)到幾Ω~幾十Ω，這個(gè)值一般不穩(wěn)定，因此用萬(wàn)用表等2端子測(cè)量是難以準(zhǔn)確測(cè)量的。

＜＜　熱電動(dòng)勢(shì)?。荆?/p>

熱電動(dòng)勢(shì)是指不同金屬之間的接觸部分產(chǎn)生的微小電壓。電阻測(cè)量中,“探頭和被測(cè)物”、“探頭和測(cè)試儀”的接觸部分會(huì)產(chǎn)生熱電動(dòng)勢(shì)。另外，金屬的種類根據(jù)環(huán)境溫度，值也會(huì)不同。使用I-V法※1的直流電阻計(jì)，熱電動(dòng)勢(shì)會(huì)影響測(cè)量值，成為測(cè)量誤差。為了排除熱電動(dòng)勢(shì)的影響，盡量使熱電動(dòng)勢(shì)較小的金屬之間接觸，或者最方便的是使用電阻計(jì)的OVC功能※2。

※交流電阻計(jì)在測(cè)量原理上，可以不受熱電動(dòng)勢(shì)的影響進(jìn)行測(cè)量。

※1 I-V法：電流-電壓法。施加電流（或電壓）測(cè)量電壓（或電流）的測(cè)量方法。

※2 OVC功能：是指偏移電壓補(bǔ)償功能。為了減輕熱電動(dòng)勢(shì)的影響，配備于對(duì)應(yīng)機(jī)型的電阻計(jì)。

＜＜　泄漏電流　＞＞

測(cè)量高電阻時(shí)，請(qǐng)用專用的帶屏蔽的測(cè)試電纜進(jìn)行保護(hù)。這樣可以讓泄漏電流留向屏蔽，不通過(guò)測(cè)試儀內(nèi)的電流檢測(cè)電路，測(cè)量值就不會(huì)出現(xiàn)泄露電流的影響。

＜＜　注意元器件的特性　＞＞

磁性電阻元件（接點(diǎn)·MR元件·片式電感器）的測(cè)量中需要注意不損壞元器件的特性。

接點(diǎn)·MR元件·片式電感器如果用較大的電流測(cè)量，則會(huì)讓被測(cè)物的特性發(fā)生變化，或損壞特性。

--影響示例—

接點(diǎn)：破壞表面的氧化膜，測(cè)量的阻值較低。

MR元件:可能因大電流破壞。

片式電感器：可能因大電流發(fā)生磁化。

這樣的測(cè)量是很精巧的，要使用低電流測(cè)量功能來(lái)測(cè)量。

＜＜　外來(lái)干擾　＞＞

熒光燈或馬達(dá)等發(fā)出的電磁場(chǎng)的外來(lái)干擾使得測(cè)量值不穩(wěn)定。

熒光燈和工頻電源線路與測(cè)試線靜電耦合，特別是檢測(cè)電流小的高阻測(cè)量中，會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。由靜電耦合帶來(lái)的外來(lái)干擾通過(guò)屏蔽測(cè)試線可減輕影響。

變壓器等發(fā)出的磁場(chǎng)與測(cè)試線磁耦合產(chǎn)生外來(lái)干擾。磁耦合帶來(lái)的外來(lái)干擾可通過(guò)盡量縮小測(cè)試線的回路或是讓測(cè)試線遠(yuǎn)離磁場(chǎng)發(fā)生源等方法來(lái)減輕影響。

＜＜　溫度變化　＞＞

較大的環(huán)境溫度變化會(huì)使得測(cè)試儀的顯示值不穩(wěn)定，產(chǎn)生測(cè)量誤差。請(qǐng)?jiān)诒ＷC溫度范圍內(nèi)進(jìn)行使用。在超出范圍的環(huán)境下使用時(shí)，請(qǐng)乘以精度范圍規(guī)定的溫度系數(shù)。

※溫度系數(shù)記載于產(chǎn)品附帶的使用說(shuō)明書(shū)。