電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutionsx
電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions1 臺(tái)儀器可高速連續(xù)測(cè)量,并判斷合格與否。用于壓電揚(yáng)聲器、水晶耳機(jī)、麥 克風(fēng)、振動(dòng)傳感器、壓力傳感器、回轉(zhuǎn)傳感器、發(fā)電電路、驅(qū)動(dòng)裝置、噴墨打 印機(jī)等多種用途的壓電元件的共振特性、靜電容量測(cè)量。
要點(diǎn)
· 使用 1 臺(tái)阻抗分析儀 IM3570 可連續(xù)測(cè)量頻率特性(分析模式)和靜電容量(LCR 模 式)。
· 利用通過面板保存功能保存的分析模式和 LCR 模式的測(cè)量條件進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。
· 可在 4Hz~5MHz 和廣范圍的頻率范圍下測(cè)量。 · 使用 LCR 模式的比較功能判斷靜電容量。
· 使用分析模式的峰值判斷功能判斷共振狀態(tài)合格與否。
· 峰值判斷是在攝制的判斷區(qū)域內(nèi)(上限、下限、左限、右限)判斷是否有峰值。
· 使用分析模式的頻率掃頻功能,將每點(diǎn)每 1ms 的頻率特性和高速測(cè)量的結(jié)果用圖表顯 示在畫面中。
· 連續(xù)測(cè)量結(jié)果畫面中,確認(rèn) LCR 模式的測(cè)量結(jié)果、LCR 模式、分析模式的判斷結(jié)果。
· 使用連續(xù)測(cè)量結(jié)果畫面的 GRAPH 鍵確認(rèn)分析模式的測(cè)量結(jié)果。
使用儀器
※ 記載的內(nèi)容是根據(jù) 2010 年 7 月發(fā)行的儀器型號(hào)。產(chǎn)品參數(shù)可能會(huì)有更改,請(qǐng)以現(xiàn)在發(fā)行的為準(zhǔn)。