電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutionsx
電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions可以瞬間檢測(cè)出線圈的繞圈開(kāi)始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤。
要點(diǎn)
· 使用LCR測(cè)試儀IM3523的相位測(cè)量功能,可以瞬間檢測(cè)出線圈的繞圈開(kāi)始、繞圈結(jié)束的錯(cuò)誤。而且,通過(guò)測(cè)量阻抗,可以檢查觸電、生產(chǎn)品和對(duì)比品的位置關(guān)系,這樣能進(jìn)行更加可靠的檢查。
●對(duì)比品(精選線圈:也可以是生產(chǎn)品)連接LCR測(cè)試儀IM3523的Lpot、Hpot端子。
●將Lcur、Hcur端子連接希望檢查卷線開(kāi)始、卷線結(jié)束的生產(chǎn)品。這時(shí),為了容易產(chǎn)生磁性結(jié)合,請(qǐng)將對(duì)比品和生產(chǎn)品放得的盡量靠近。LCR測(cè)試儀IM3523的測(cè)量項(xiàng)目設(shè)為θ(相位)和Z(阻抗)。
●由于生產(chǎn)品的泄漏磁通量,對(duì)比品會(huì)產(chǎn)生誘導(dǎo)電壓。
●若生產(chǎn)品的卷線開(kāi)始、卷線結(jié)束存在錯(cuò)誤,則對(duì)比品所產(chǎn)生的電壓的相位極性會(huì)和正常品有差別。利用 這點(diǎn),可以檢測(cè)出卷線開(kāi)始、卷線結(jié)束的錯(cuò)誤。
●生產(chǎn)品和LCR測(cè)試儀IM3523的接觸不良、和對(duì)比品的位置差異不同的話,則有時(shí)也可能無(wú)法正常檢測(cè)出泄漏磁通量。通過(guò)以正常測(cè)量時(shí)的阻抗為標(biāo)準(zhǔn),檢測(cè)出和其的差異,可以確認(rèn)接觸檢查和位置關(guān)系。
※泄漏磁通量較少時(shí),需要在初期階段時(shí)進(jìn)行增加對(duì)比品的阻抗,增大磁性結(jié)合等的調(diào)整。
使用儀器
※ 記載的內(nèi)容是根據(jù)2013年10月發(fā)行的儀器型號(hào)。產(chǎn)品參數(shù)可能會(huì)有更改,請(qǐng)以現(xiàn)在發(fā)行的為準(zhǔn)。