電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions
會員專屬之旅,等您加入!
x
注冊會員,擁有更多權(quán)益,解鎖無數(shù)精彩,快來開啟不一樣的體驗。
電子零件和半導(dǎo)體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions可以按照JIS標(biāo)準來測量雙電層電容器(EDLC)的內(nèi)阻測量。
要點
? 雙電層電容器中,屬于Class1※的產(chǎn)品將交流電阻法作為標(biāo)準用于測量內(nèi)部電阻。
※內(nèi)阻較大,靜電電容小的產(chǎn)品,用于存儲備份。
? 電池測試儀BT3562能以1kHz的測試電流頻率來測量最大3.1kΩ 的內(nèi)阻。
標(biāo)準
? JISC5160-1電子設(shè)備用固定雙電層電容器第1部:按照項目分的通則的內(nèi)組測量。
? JIS標(biāo)準中對測試電流有規(guī)定。測試電流符合JIS標(biāo)準時,請選擇能夠更改電流的LCR測試儀IM3523(電池測試儀BT3562按照每個電阻量程都有固定的測試電流)
使用儀器
高阻計SM-8220
平板測試樣品用電極SME-8310
溫濕度數(shù)據(jù)采集儀LR5001
通訊轉(zhuǎn)換器LR5091
數(shù)據(jù)采集器LR5092-20
※ 記載的內(nèi)容是根據(jù)2014年3月發(fā)行的儀器型號。產(chǎn)品參數(shù)可能會有更改,請以現(xiàn)在發(fā)行的為準。