可能是以下原因。
1.溫度的影響
微電阻計RM3544通過使用4端子測量方法流動恒定電流來測量。熱量可能隨著時間的推移而變化，并且電阻可能根據(jù)周圍環(huán)境（例如室溫和空調(diào)等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測量探頭（測試線）時，壓力可能會發(fā)生變化。 例如，當對被測物的接觸壓力上升（適應）時，電阻值可能會減小。
3.氧化膜的影響
根據(jù)被測物，通過測量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會變低。

4.測試線的影響

夾型、4端子型、針型、自制測試線等，因為所用的測試線不同也可能會受到接觸電阻的影響。

5.被測物的材質(zhì)、特性等其他影響

【相關產(chǎn)品】RM3544、RM3545、MR3548等電阻計