可能是以下原因。
1.溫度的影響
微電阻計(jì)RM3544通過使用4端子測(cè)量方法流動(dòng)恒定電流來測(cè)量。熱量可能隨著時(shí)間的推移而變化，并且電阻可能根據(jù)周圍環(huán)境（例如室溫和空調(diào)等）而改變。
2.接觸狀態(tài)的影響
連接測(cè)量探頭（測(cè)試線）時(shí)，壓力可能會(huì)發(fā)生變化。 例如，當(dāng)對(duì)被測(cè)物的接觸壓力上升（適應(yīng)）時(shí)，電阻值可能會(huì)減小。
3.氧化膜的影響
根據(jù)被測(cè)物，通過測(cè)量電流去除表面的氧化膜，并且電阻值可能會(huì)變低。

4.測(cè)試線的影響

夾型、4端子型、針型、自制測(cè)試線等，因?yàn)樗玫臏y(cè)試線不同也可能會(huì)受到接觸電阻的影響。

5.被測(cè)物的材質(zhì)、特性等其他影響

【相關(guān)產(chǎn)品】RM3544、RM3545、MR3548等電阻計(jì)