電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions
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電子零件和半導體行業(yè)解決方案
Electronics & Semiconductor Solutions通過測量帕爾帖元件的內(nèi)部電阻,可以檢查金屬、半導體、耦合狀態(tài)等。
要點
?帕耳帖元件是一種組合金屬和半導體的器件,當直流電流流過時,它可以在耦合處“加 熱/冷卻”,如果電流方向反轉(zhuǎn)則反轉(zhuǎn)“加熱/冷卻”。
?在測量結(jié)狀態(tài)時,如果用直流電流測量電阻,則在帕耳帖元件內(nèi)部將存在熱傳遞,因此 可能產(chǎn)生冷卻表面/發(fā)熱表面,并且電阻值可能不穩(wěn)定。
通過交流電測量,可以實現(xiàn)穩(wěn)定的電阻測量,同時減少熱傳遞和溫度變化。
?帕耳帖元件還有幾 mΩ 的低電阻器件。 BT3562A 可以在交流電(測量頻率 1 kHz)下測量內(nèi)部電阻,并且由于其最小分辨率為 0.1μΩ,即使使用低電阻帕爾帖元件也可以進行高精度測量。
補充
?電池測試儀 BT3562A 是可以同時測量交流電阻和直流電壓的測量儀器。
?在帕爾帖元件測量應用中,僅使用 AC 電阻測量功能,而不使用 DC 電壓測量功能。
?直流電壓值可以通過按鍵操作設置為不顯示。
使用儀器
※記載的內(nèi)容是根據(jù) 2022 年 8 月發(fā)行的儀器型號。可能在產(chǎn)品款式上有更改,請以現(xiàn)在發(fā)行的為準。