首頁 - 產(chǎn)品中心 - 電子測量儀表 - 直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL

直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL

電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)

概要
規(guī)格
選件
相關(guān)下載
主機升級

為電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案，通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)

● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗證電池和電機質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
● 支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能。

專用于直流耐壓測試的高配置機型

這是提供更優(yōu)化的檢測品質(zhì)的直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680EOL的介紹。其性能可以支持各個國際標(biāo)準(zhǔn)的測試條件，應(yīng)對所有的直流耐壓測試。
使用波形和數(shù)值驗證絕緣性能【波形顯示功能】

ST5680EOL是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定，也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測試可視化分析，有助于檢查的溯源。

輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
可以通過波形確認(rèn)測試時輸出電壓或泄漏電流的動向。
在確認(rèn)波形的同時，還可按時間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。
無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作，在現(xiàn)場就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。
波形顯示的優(yōu)點

有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
通過分析檢查時的波形，可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素，優(yōu)化生產(chǎn)工序，從而能夠提高生產(chǎn)效率。
有助于對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析
可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測時的波形做比對。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
有助于宣傳檢查的可靠性
波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性，構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系，可以提升客戶的信任。
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測功能】

可以檢測因為焊接毛刺或粉塵異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品，可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險。
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測【接觸檢查功能】

通過測量端子間的電容（雜散電容、被測物的電容），能判斷是否正確連接檢測對象。

防止將不合格品誤判為合格品
?測試中測試線脫落的情況
?測試部位間電阻增加的情況
例：測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等

可以輕松使用
?利用兩端子可以實現(xiàn)簡單的接線
適用于電池、電機、電子零件等的耐壓測試

ST5680EOL是向測試對象輸出高電壓，測試絕緣性能的測試儀。可以對從電子設(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對象進(jìn)行安全測試。在電池中，用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。
可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測試

就算是測試對象含有電容成分的情況下，因為有不易發(fā)生過沖的設(shè)計，不會對測試對象輸出超過設(shè)置電壓的電壓，所以可以放心進(jìn)行測試。
另外，通過配合延遲時間的設(shè)置，也可以不對充電電流流動的時間進(jìn)行判斷，從而防止誤判。
※可測量的最大靜電電容量值200 nF (測量更大的電容值可能會導(dǎo)致測量時間變長，或者測量值的偏差變大。）
最小分辨率0.001 μA的高精度判定

隨著電池和電機等絕緣性能的提高，對判斷耐壓測試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高，要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測試儀，則無法準(zhǔn)確測量泄漏電流的測量值。ST5680EOL實現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格，因此可以正確測量微小的泄漏電流，判斷合格與否。
搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測量功能

搭載了確認(rèn)測試對象絕緣擊穿電壓的BDV（Break Down Voltage）功能。
以一定速度提高輸出電壓，確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時的電壓。
測試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，有連續(xù)升壓測試和逐級升壓測試。
ST5680EOL兩種測試都可以實施。可用于電池開發(fā)時的性能評價(絕緣耐力評估)。

基本參數(shù)（精度保證時間1年）

主要功能	直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能”表)
功能一覽	聯(lián)鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測、EXT SW（遠(yuǎn)程控制）
使用溫濕度范圍	0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露）
適合標(biāo)準(zhǔn)	安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326
電源電壓	AC 100 V ～ 240 V
功耗	約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。
最大額定功率	800 VA
接口	通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）存儲：U盤
尺寸·重量	305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） 10.0 kg ± 0.2 kg
附件	電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動指南

各測試·功能

直流耐壓測試	輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（*1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小分辨率：0.001 μA 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上測試模式W→IR，IR→W，程序測試
絕緣電阻測試	輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）電壓上升/下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
絕緣擊穿電壓測試	測試方法：連續(xù)升壓測試，逐級升壓測試測量內(nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強度（kV/mm）設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測，電極間距離，電流上限值檢測有效電壓：150V以上
波形顯示功能	波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words
ARC放電檢測功能	檢測方式：監(jiān)視試驗測試電壓的變動設(shè)定內(nèi)容：測試電壓變動率1％～50％檢測有效電壓：150V以上
存儲功能	·波形·圖形保存到U盤保存格式：BMP、PNG、CSV文件 ·面板保存功能將測試條件保存在主機內(nèi)存中直流耐壓測試模式/絕緣電阻測試模式：最多64個程序測試：最多30個（最多50步）絕緣擊穿電壓測試：最多10個 ·數(shù)據(jù)存儲功能測量值保存在內(nèi)存，最多32000個
判定功能（判定輸出）	判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測量值＞上限值 PASS：上限值≥測量值≥下限值 LOWER_FAIL：測量值＜下限值
注記（*1）	環(huán)境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕緣電阻測量精度（*2）（精度保證測試電壓范圍：50 V ~ 2000 V）

測試范圍	100 kΩ ～ 99.99 GΩ
10 nA ≦ I ≦ 3 μA	100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ	±(20% rdg.)
100 nA ≦ I ≦ 30 μA	10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ	±(5% rdg.)
1 μA ≦ I ≦ 300 μA	1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ	±(2% rdg. + 5 dgt.)
10 μA ≦ I ≦ 3 mA	100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ	±(1.5% rdg. +3 dgt.)
100 μA ≦ I ≦ 20 mA	100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ	±(1.5% rdg. +3 dgt.)
注記（*2）	· 測試電壓為50 V?99 V時，測量精度加算±10% · 測試電壓為100 V?999 V時，測量精度加算±5% · 測試電壓為1000 V?2000 V時，測量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時，加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測定速度為FAST2時，測量精度加倍